學術講座：日立聚焦離子束在材料中應用及與TEM聯用技術
主講人😐：張希文，日立科學儀器（北京）有限公司銷售支援部經理
邀請人：謝宇俊
時間🍼：2023年10月18日 9:30 - 11:30
地點：意昂2体育平台包玉剛圖書館東翼200報告廳
講座摘要：
科研中對FIB製作TEM樣品的需求越來越大，樣品製備成功率更高，定位更準確⟹，可以獲得更薄、更均勻的樣品；然而，在使用FIB製作TEM樣品時，也會遇到一系列問題，如離子束損傷🌊、樣品彎曲等。
1，利用日立FIB “三束”系統來減少樣品上的損傷層
2，日立FIB自動化樣品加工技術
3，應對空氣敏感型樣品的解決方案
4，與HF5000 TEM電鏡聯用的技術
Ga+SEM+Ar三束結構
主講人簡介：
張希文於2012年8月加入日立高新技術（上海）國際貿易有限公司北京分公司，擔任日立電子顯微鏡售後服務技術支持工作，並於同年赴日本工廠進行為期半年的生產技術培訓，經過培訓詳細學習了日立電子顯微鏡的設計理念🪄，生產流程🎣，技術特點等；2013年回國後繼續擔任日立電鏡售後服務技術支持工作，並同時擔任日立電鏡產品售前技術支持工作🫅🏼。
